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| 元素分析 | |||
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 儀器 | 檢測(cè)范圍 | 樣品要求 |
| 成分表面分析，價(jià)態(tài)分析，多層膜深度剖析 | XPS | 常規(guī)XPS,微區(qū)XPS分析,深度剖析XPS,XPS成像,ISS,UPS,變溫。原位反應(yīng)表征 | 固體 |
| 元素定量分析(ppb級(jí)) | ICP-OES | 除O、Cl、S、F和惰性氣體元素外的絕大多數(shù)元素 | 可溶固體、液體樣品。 |
| Hg(ppb級(jí)) | 測(cè)汞儀 | 無(wú)需前處理可直接分析 | 固體 |
| 元素定性和定量分析 | 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 | O-U元素，ppm級(jí)；熔樣、粉碎、壓片制樣。 | 塊狀/粉末固體，液體。 |
| 微區(qū)元素分析 | SEM-EDS | B-U元素 | 微量固體樣品 |
| 有機(jī)及部分無(wú)機(jī)物CHONS定量分析 | 元素分析儀EA | C、H、O、N、S元素，精度0.1%abs | 固體樣品 |
| 總有機(jī)碳/總無(wú)機(jī)碳TIC/總氮TNb測(cè)試 | TOC分析儀 | TC、TOC、TIC、TNb,精度C≤1% | 水樣 |
| 組分分析 | |||
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 儀器 | 檢測(cè)范圍 | 樣品要求 |
| 有機(jī)成分的定性定量分析 | 高效液相色譜儀 | 單糖、有機(jī)組分，ppm | 能溶解的固體、液體 |
| 陽(yáng)離子、陰離子定性、定量分析，單糖、低聚糖分析，滴定。 | 離子色譜系統(tǒng) | 離子濃度，糖分析，滴定 | 液體 |
| 原位變壓、變溫反應(yīng)，電化學(xué)反應(yīng)；透射，漫反射，鏡面反射。對(duì)有機(jī)化合物定性分析。 | 原位FTIR | 溫度范圍：－150～600℃；壓力范圍： | 不同測(cè)試項(xiàng)目要求不同形態(tài) |
| 有機(jī)化合物氣相色譜分離和定性定量質(zhì)譜分析，裂解、燃燒產(chǎn)物分析 | PY-GC-MS、GC-MS | 裂解：室溫～1400℃，升溫速率：10～20000℃/s | 氣體、低沸點(diǎn)液體，固體、液體裂解 |
| 熒光、磷光、生物或化學(xué)發(fā)光，成分定性定量分析 | 熒光分光光度計(jì) | 波長(zhǎng)：200～900nm | 固體、液體 |
| 光譜性能分析，成分、濃度定量分析 | 紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì) | 波長(zhǎng)：190～3300nm | 固體、薄膜、液體 |
| 拉曼光譜測(cè)定，拉曼光譜分布（Mapping），物質(zhì)組分、結(jié)構(gòu)、應(yīng)力分析 | 激光拉曼光譜儀 | 532、633、325nm激光器，冷熱臺(tái)（-190~650℃） | 固體、液體、氣體 |
| 各類氣體（如煉廠氣、可燃?xì)?、廢氣等）或低分子易揮發(fā)有機(jī)物的成分和熱值分析 | 氣相色譜分析系統(tǒng) | FID、TCD檢測(cè)器，多色譜柱系統(tǒng) | 氣體，低沸點(diǎn)液體 |
| 水質(zhì)分析 | 水分、水質(zhì)分析儀 | 水份、COD、氨氮、六價(jià)鉻、TOC、總氮 | 液體 |
| 水份、揮發(fā)分、灰分、固定碳 | 工業(yè)分析系統(tǒng) | 生物質(zhì)、固體廢棄物等 | 固體、液體 |
| 微形貌和結(jié)構(gòu)表征 | |||
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 儀器 | 檢測(cè)范圍 | 樣品要求 |
| 物相、晶體顆粒度分析，冷、熱相變?cè)环治觯∧の锵?、厚度分? | X射線衍射系統(tǒng) | 顆粒度10~100nm,-190~1200℃變溫，常規(guī)、小角散射 | 塊狀固體、粉末、薄膜 |
| 表面形貌觀察與分析，微區(qū)元素分析 | 冷場(chǎng)發(fā)射高分辨掃描電鏡 | 最高分辨率1nm，最高放大倍數(shù)80萬(wàn) | 塊狀固體、粉末 |
| 1H，13C，19F， 15N-31P譜圖分析，結(jié)構(gòu)分析 | 400MHz液體核磁共振波譜儀 | 變溫實(shí)驗(yàn)：-150℃~150℃ | 液體或可溶解固體（結(jié)構(gòu)不改變） |
| 1H，13C，19F， 15N-31P譜圖分析，結(jié)構(gòu)分析 | 300MHz寬腔固體核磁共振波譜儀 | 變溫實(shí)驗(yàn)：-150℃~150℃ | 固體 |
| 材料物性分析 | |||
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 儀器 | 檢測(cè)范圍 | 樣品要求 |
| 真實(shí)密度、真實(shí)體積，振實(shí)密度、振實(shí)體積 | 真實(shí)密度計(jì)、振實(shí)密度計(jì) | 真實(shí)密度計(jì)分辨率：0.0001g/cc | 粉末或塊狀固體，液體 |
| 比表面積（BET）、總孔容、孔分布、平均孔徑及孔隙率等 | 比表面積與孔徑分析系統(tǒng)，壓汞儀 | 微孔、介孔、大孔 | 粉末或塊狀固體 |
| 程序升溫氧化/還原/吸脫附反應(yīng)；脈沖滴定、金屬分散度、活性金屬表面積和酸/堿性位點(diǎn)等；水蒸汽及簡(jiǎn)單有機(jī)蒸汽吸附特性等 | 化學(xué)吸附系統(tǒng) | 高溫爐溫度范圍：室溫～1100℃，質(zhì)譜定性 | 粉末或塊狀固體 |
| 粒度尺寸、粒度分布、Zeta電位值等 | 微/納米激光粒度儀 | 微米級(jí)、納米級(jí)粒度分析 | 懸濁液、乳液 |
| 霍爾系數(shù)、阻抗、載流子濃度和遷移率；介電常數(shù)、低導(dǎo)熱系數(shù)、灰熔點(diǎn) | 變溫霍爾系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、導(dǎo)熱系數(shù)儀、介電常數(shù)儀等 | 測(cè)試溫度最高達(dá)1073K；電阻：0.5mΩ～100GΩ；導(dǎo)熱系數(shù)0.005～0.50 W/m·K | 固體、液體 |
| 材料受熱的TG、DSC、DTA分析，熱反應(yīng)過(guò)程分析及產(chǎn)物鑒別，灰分、比熱、熔點(diǎn)、玻璃化溫度 | 同步熱分析儀紅外質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)，熱重紅外聯(lián)用系統(tǒng) | 室溫~1500℃ | 固體 |
| 高/低位收到基或干基熱值 | 熱值測(cè)量系統(tǒng) | 測(cè)試多個(gè)參數(shù)獲得熱值 | 固體、液體 |
| 材料吸收率/反射率 | 紅外光譜儀/紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì) | 波段從中紅外到紫外 | 固體 |
| 太陽(yáng)光模擬，IV曲線測(cè)試，太陽(yáng)能電池、光電材料特性測(cè)試，升溫化學(xué)測(cè)試。 | 太陽(yáng)能模擬器-電化學(xué)工作站 | 550W Class AAA級(jí)別太陽(yáng)能模擬器 | 固體、液體 |
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